詳情介紹
品牌 | 廣皓天 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,航天,電氣 |
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高溫區(qū) | +60℃~200℃ | 低溫區(qū) | -10℃~-60℃ |
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溫度波動度 | ±0.5℃ | 溫度均勻度 | ±3℃ |
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溫度恢復(fù)時間 | 3~5 分鐘 | 高溫槽升溫速度 | 平均約 5℃/min |
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低溫槽降溫速度 | 平均約 1.5℃/min | 高低溫暴露時間 | 30min 以上 |
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高低溫轉(zhuǎn)換時間 | ≤10秒 | 樣品容積 | 36L |
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工作室尺寸 | 600×500×500mm(寬 × 高 × 深) | 外形尺寸 | 約 1880×1850×2120mm |
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電源 | 380V/50Hz | 重量 | 約 560kg |
高性能三箱式冷熱沖擊試驗箱溫控響應(yīng)速度快
在當今科技高速發(fā)展的時代,產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性成為企業(yè)競爭的關(guān)鍵。高性能三箱式冷熱沖擊試驗箱作為一款高性能的測試設(shè)備,以出色的性能和快速的溫控響應(yīng)速度,為產(chǎn)品的質(zhì)量檢測提供了有力的保障。它就像一位嚴苛的考官,對產(chǎn)品進行不同環(huán)境溫度氣候的考驗,確保產(chǎn)品在各種不同的溫度環(huán)境下都能保持穩(wěn)定的性能。
一、主要功能及特點:
功能:能夠快速實現(xiàn)高溫、低溫之間的切換,模擬芯片在實際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環(huán)境,對芯片的性能、可靠性進行嚴格測試。
特點:
三箱獨立結(jié)構(gòu),高溫、低溫和測試區(qū)互不干擾,確保溫度轉(zhuǎn)換快速、準確。
精準的溫度控制,溫度波動小,能夠滿足不同產(chǎn)品的測試要求。
快速溫度切換功能,可在短時間內(nèi)實現(xiàn)從高溫到低溫或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)變,模擬真實的熱脹冷縮環(huán)境。
智能化控制系統(tǒng),操作簡便,可實時監(jiān)測和記錄測試數(shù)據(jù)。
良好的密封性和隔熱性能,減少能量損失,提高測試效率
二、TSD-150F-3P 參數(shù):溫度范圍:高溫區(qū) +60℃~+150℃,低溫區(qū) -10℃~-65℃。
溫度波動度:高溫區(qū) ±0.5℃,低溫區(qū) ±1.0℃。
溫度均勻度:高溫區(qū) ±2.0℃,低溫區(qū) ±2.0℃。
升溫速率:從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。
降溫速率:從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。
工作室尺寸:寬 × 高 × 深為 600mm×500mm×500mm。
三、實驗方法:首先,將待測試的產(chǎn)品放置在試驗箱的測試區(qū)內(nèi),并確保產(chǎn)品安裝牢固。
根據(jù)測試要求,設(shè)置試驗箱的高溫、低溫和沖擊時間等參數(shù)。
啟動試驗箱,設(shè)備將自動進行溫度控制和沖擊循環(huán)。在測試過程中,可以通過監(jiān)控系統(tǒng)實時觀察產(chǎn)品的狀態(tài)和溫度變化情況。
測試結(jié)束后,取出產(chǎn)品,進行性能檢測和分析。對比測試前后產(chǎn)品的性能指標,評估產(chǎn)品在冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。
四、滿足以下標準:
一、國際標準
IEC 60068-2-14:環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化。
MIL-STD-810F:美國J用標準,環(huán)境工程考慮和實驗室試驗方法。
二、國家標準
GB/T 2423.1-2008:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫。
GB/T 2423.2-2008:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B:高溫。
GB/T 2423.22-2012:環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化。
高性能三箱式冷熱沖擊試驗箱溫控響應(yīng)速度快
高性能三箱式冷熱沖擊試驗箱以其快速的溫控響應(yīng)速度和精準的溫度控制能力,為產(chǎn)品的質(zhì)量檢測提供了可靠的保障。選擇這款試驗箱,就是選擇了高品質(zhì)的測試解決方案。讓我們攜手共進,以先進的測試技術(shù)為產(chǎn)品的質(zhì)量保駕護航,共同開創(chuàng)美好的未來。
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