TSD-36F-2P 冷熱沖擊試驗箱兩箱式是一款高性能測試設(shè)備。它具備 36L 的樣品容積,可滿足多種產(chǎn)品測試需求。溫度范圍廣,高溫可達 200℃,低溫可至特定低溫區(qū)間。溫度波動度小、均勻度高,能快速實現(xiàn)高低溫轉(zhuǎn)換,轉(zhuǎn)換時間≤10秒。該設(shè)備適用于電子、電器等產(chǎn)品的可靠性測試,可模擬產(chǎn)品在惡劣溫度變化環(huán)境下的性能表現(xiàn),為產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠保障,助力企業(yè)提升產(chǎn)品競爭力。冷熱沖擊試驗箱兩箱式高溫低溫測試
- 產(chǎn)品型號:TSD-36F-2P
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-09-03
- 訪 問 量:123
品牌 | 廣皓天 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,航天,電氣 |
高溫區(qū) | +60℃~200℃ | 低溫區(qū) | -10℃~-40℃ |
溫度波動度 | ±0.5℃ | 溫度均勻度 | ±3℃ |
溫度恢復時間 | 3~5 分鐘 | 高溫槽升溫速度 | 平均約 5℃/min |
低溫槽降溫速度 | 平均約 1.5℃/min | 高低溫暴露時間 | 30min 以上 |
高低溫轉(zhuǎn)換時間 | ≤10秒 | 樣品容積 | 36L |
工作室尺寸 | 350×300×350mm(寬 × 高 × 深) | 外形尺寸 | 約 1630×1650×1820mm |
電源 | 380V/50Hz | 重量 | 約 500kg |
冷熱沖擊試驗箱兩箱式高溫低溫測試
產(chǎn)品詳情:
結(jié)構(gòu)設(shè)計:兩箱式冷熱沖擊試驗箱通常由兩個獨立的箱體組成,分別為高溫箱和低溫箱,中間通過轉(zhuǎn)移裝置(如提籃等)連接。箱體一般采用優(yōu)質(zhì)的不銹鋼或冷軋鋼板材質(zhì),具有良好的保溫性能和耐腐蝕性能。外箱美觀大方,內(nèi)箱空間設(shè)計合理,便于放置測試樣品。
溫度范圍:高溫區(qū)溫度通??蛇_到 +60℃至 +200℃;低溫區(qū)溫度根據(jù)不同型號和需求,常見的有 -10℃至 -40℃、-10℃至 -55℃、-10℃至 -65℃、-10℃至 -70℃等多種選擇 。
溫度波動度:一般能控制在 ±0.5℃以內(nèi),確保溫度的精確性和穩(wěn)定性 。
溫度均勻度:通常在 ±3℃以內(nèi),保證箱內(nèi)不同位置的溫度差異在可接受范圍內(nèi) 。
轉(zhuǎn)換時間:高低溫之間的轉(zhuǎn)換時間較短,一般≤15 秒,能夠快速實現(xiàn)溫度的切換 。
恢復時間:溫度恢復時間較快,通常≤5 分鐘,使得試驗?zāi)軌蚋咝нM行 。
用途:
材料測試:可用于測試金屬、塑料、橡膠、電子等材料在瞬間很高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害,為材料的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供依據(jù) 。
產(chǎn)品可靠性評估:廣泛應(yīng)用于電子元氣件、電子產(chǎn)品、汽車零部件、航空航天設(shè)備等領(lǐng)域,對產(chǎn)品進行可靠性試驗和篩選試驗,以提高產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量 。
科研實驗:在科研領(lǐng)域,可用于研究材料的熱性能、溫度變化對產(chǎn)品性能的影響等,為科學研究提供數(shù)據(jù)支持。
制冷系統(tǒng):
制冷原理:制冷系統(tǒng)主要由蒸發(fā)器、壓縮機、冷凝器和膨脹閥等部件組成。制冷劑在蒸發(fā)器中蒸發(fā)吸收熱量,使試驗箱內(nèi)的溫度降低;蒸發(fā)后的制冷劑被壓縮機壓縮成高溫高壓氣體,然后進入冷凝器釋放熱量,變?yōu)楦邷馗邏阂后w;高溫高壓液體經(jīng)過膨脹閥降壓后,再次回到蒸發(fā)器,完成一個制冷循環(huán) 。
制冷方式:常采用復疊式(二元式)制冷系統(tǒng),這種制冷方式能夠滿足冷熱沖擊試驗箱對低溫的要求,并且具有制冷效率高、制冷溫度低等優(yōu)點。常用的制冷劑有環(huán)保型冷媒,如 R-23 等 。
制冷部件:壓縮機通常采用進口品牌的全封閉式或半封閉式壓縮機,如法國泰康、德國比澤爾等,具有性能穩(wěn)定、制冷效果好、噪音低等特點;冷凝器和蒸發(fā)器采用高效能的熱交換器,能夠提高制冷系統(tǒng)的換熱效率 。
參照標準:
國家標準:GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫》、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B:高溫》、GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化》。
J用標準:GJB 150.5-1986《J用設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗》、GJB 360.7-1987《電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗》、GJB 367.2-1987《J用通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法》。
冷熱沖擊試驗箱兩箱式高溫低溫測試
工作原理:
兩箱式冷熱沖擊試驗箱的工作過程主要是通過轉(zhuǎn)移裝置將測試樣品在高溫箱和低溫箱之間快速移動,實現(xiàn)冷熱沖擊的效果。首先,將測試樣品放置在其中一個箱體內(nèi)(如高溫箱),使其在高溫環(huán)境下保持一段時間,以達到熱穩(wěn)定狀態(tài);然后,通過轉(zhuǎn)移裝置將測試樣品迅速轉(zhuǎn)移到另一個箱體(低溫箱)中,讓樣品在低溫環(huán)境下保持一段時間,完成一次冷熱沖擊循環(huán)。如此反復進行多次循環(huán),以模擬產(chǎn)品在實際使用過程中可能遇到的溫度變化情況??刂葡到y(tǒng)會根據(jù)設(shè)定的溫度范圍、變化速率等參數(shù),自動調(diào)節(jié)制冷系統(tǒng)和加熱系統(tǒng)的輸出功率,確保試驗箱內(nèi)的溫度按照預(yù)設(shè)要求進行變化。
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